High-Resolution Electrical Impedance Tomography (EIT) 项目旨在为学术界和商业研究提供支持。该项目基于我们在 ACM UIST 2016 的论文，该论文的链接如下：https://dl.acm.org/doi/abs/10.1145/2984511.2984574。

EIT 是一种用于测量物体内部电导率分布的非侵入性技术。通过将电极放置在物体表面并测量其阻抗，我们可以获取到物体内部的电导率分布信息。这种技术在医学成像、材料科学、地质勘探等领域具有广泛的应用前景。

本项目的目标是提高 EIT 系统的分辨率，以便更好地捕捉到物体内部的微小变化。为了实现这一目标，我们将研究新的算法和技术，以提高信号处理的效率和准确性。此外，我们还将探索如何将 EIT 与其他成像技术（如磁共振成像）相结合，以获得更全面的信息。The high resolution Electrical Impedance Tomograph (EIT) project is provided for academic and non-commercial research. This project is based on our publication at ACM UIST 2016: https://dl.acm.org/doi/abs/10.1145/2984511.2984574